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一.概述：
四探针法，可测微欧到兆欧方阻值量程，采用AD芯片控制，恒流输出， PC软件运行，自动数据测量和系数修正，直读方阻，电阻，电阻率和电导率数据；中文或英文语言版本；具有屏蔽功能；参考美国 A.S.T.M 标准。单晶硅物理测试方法
二.适用范围：
1.导电性新材料、铝箔、铜箔、铝涂层、碳纤维材料、电极材料；
2.一般的涂层材料、薄膜、薄片基底材料研究.
3.大学、研究所、R&D部门对新材料宽量程电阻率或电导性能研究使用.
FT-3671系列全量程四探针测试仪
三.参数资料：
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规格型号 |
FT-3671A经济型 |
FT-3671B自动型 |
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1.方块电阻范围 |
10^6～2×10^7Ω/□ |
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2.电阻率范围 |
10^7～2×10^8Ω-cm |
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3.测试电流范围 |
1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA, 100nA ,10nA , 1nA |
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4.电流精度 |
1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA±0.1% ; 100nA ,10nA , 1nA±2% |
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5.电阻精度 |
10^2Ω以下量程≤0.5%; 10^2Ω以上量程≤10%; |
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6.PC软件界面操作 |
PC软件界面显示：电阻、电阻率、方阻、电导率、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、过程图谱，报表生成. |
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7.测试方式 |
手动测量 |
自动测量 |
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8.工作电源 |
输入: AC 220V±10%.50Hz功 耗：<100W |
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9.误差 |
小量程≤4%（标准样片结果）;大量程≤10% |
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10.校准方式 |
标准电阻和标准样片 |
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11.测试探头 |
探针间距选购： 2mm；3mm两种规格; 探针材质选购：碳化钨针、镀金磷铜半球形针 |
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